德國Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀

Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀適于工廠高速柵格二維掃描測(cè)量平面類零件，如線路板、手機(jī)外殼、模板等。封閉式結(jié)構(gòu)，平面光源位于頂部機(jī)蓋，CCD變焦系統(tǒng)位于機(jī)器底部，快速聚焦于大玻璃工作臺(tái)表面，可同時(shí)測(cè)量位于工作臺(tái)表面各種不同類型零件。

作為測(cè)量?jī)x器，該掃描儀是當(dāng)今世界上測(cè)量二維工件zui精確的二維掃描儀（申請(qǐng)中）.

主要特點(diǎn)：
◆ 高速的矩陣式掃描系統(tǒng)，適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的二維測(cè)量
◆ 工業(yè)圖像處理系統(tǒng)，掃描規(guī)則的幾何元素及自由輪廓
◆ 被測(cè)工件可任意位置放置
◆ 模塊化的測(cè)量軟件
◆ 利用投射光和透射光進(jìn)行工件掃描
◆ 快捷方便的WinWerth評(píng)估軟件
◆ WinWerth軟件CAD在線和*公差擬合測(cè)量
◆ 平面光源
◆ 精度采用高標(biāo)準(zhǔn)雙邊標(biāo)定

技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍（玻璃工作臺(tái) 尺寸）:
X = 400/650mm
Y = 200/400/600mm
zui大工件高度：Z = 100mm
光柵尺分辨率：0.1µm

測(cè)量機(jī)zui大允許誤差:

變焦:
1)E1: (2.5+L/120) µm
 E2: (2.9+L/100) µm

固定鏡頭 0.4x:
2)E1: (4.9+L/100) µm
 E2: (4.9+L/75) µm

固定鏡頭 0.2x:
2)E1: (9+L/100) µm
 E2: (9+L/75) µm

1)20℃±2o Δ=1o/h  5X鏡頭  2)20℃±2度　Δ=1度/h
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn) ISO 10360 和 VDI/VDE 2617